產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
激光光譜原位分析儀LIBSOPA 100分析原理是：樣品表面被高能激光擊穿形成等離子體，等離子體光線(xiàn)經(jīng)過(guò)濾波,分光之后被多通道的光電倍增管檢測系統檢測。激光光譜原位分析儀LIBSOPA 100分析不受樣品尺寸，狀態(tài)，導電性，難熔與否的影響；不但有激光光譜的非接觸分析，微區分析，深度分析的優(yōu)點(diǎn)，又具備原位統計分布分析技術(shù)的原位性和統計性。
詳情介紹：
LIBSOPA 100激光光譜原位分析儀
激光光譜原位分析儀LIBSOPA 100儀器簡(jiǎn)介：激光光譜原位分析儀(LIBSOPA-100)是激光誘導擊穿光譜分析技術(shù)（LIBS）和原位統計分布分析技術(shù)（OPA）上乘結合的新型分析儀器。激光誘導擊穿光譜原位統計分布分析技術(shù)(LIBSOPA)通過(guò)高能激光聚焦于樣品表面，樣品被擊穿形成高溫等離子體，通過(guò)檢測等離子體光譜信號，獲得樣品的成分及元素分布信息的技術(shù)。激光光譜原位分析儀LIBSOPA 100分析原理是：樣品表面被高能激光擊穿形成等離子體，等離子體光線(xiàn)經(jīng)過(guò)濾波,分光之后被多通道的光電倍增管檢測系統檢測。根據光譜特征譜線(xiàn)波長(cháng)得出被擊穿位點(diǎn)的元素種類(lèi);定標后對應譜線(xiàn)的強度表示被擊穿位點(diǎn)元素的濃度。借助精密三維移動(dòng)平臺在樣品激發(fā)表面很好的定位和記錄，實(shí)現任意點(diǎn)掃描，一維線(xiàn)性?huà)呙?，一維深度分析和二維面掃描分析，并據此獲得與材料原位置相對應的各元素原始含量及狀態(tài)信息，可以用統計解析的方法定量表征材料的偏析度、疏松度等信息。該方法不但有激光光譜的非接觸分析，微區分析，深度分析的優(yōu)點(diǎn)，又具備原位統計分布分析技術(shù)的原位性和統計性。激光光譜原位分析儀LIBSOPA 100的研制成功為材料成分分析，缺陷分析，涂鍍層等樣品的分析應用提供了新的技術(shù)手段及質(zhì)量判據。
激光光譜原位分析儀LIBSOPA 100儀器特點(diǎn):
1. LIBS技術(shù)與OPA技術(shù)結合的新型分析儀器，多項磚利技術(shù)。
2. 多元素同時(shí)分析。28個(gè)元素通道，包含C,P,S元素，線(xiàn)性關(guān)系良好；
3. 預剝蝕時(shí)間，積分時(shí)間，門(mén)控延遲時(shí)間動(dòng)態(tài)可調。
4. 分析簡(jiǎn)便、快速，無(wú)前處理過(guò)程，避免樣品被污染；
5. 分析不受樣品尺寸，狀態(tài)，導電性，難熔與否的影響；
6. LIBS具有高靈敏度與高空間分辨率，非常適合涂層材料、薄膜材料分析；
7. 微小燒蝕光斑可進(jìn)行局部微區分析，表面微損分析，適合材料缺陷分析；
8. 非接觸測量，響應迅速，分析時(shí)間短，可滿(mǎn)足實(shí)時(shí)分析以及在線(xiàn)分析的要求。
激光光譜原位分析儀LIBSOPA 100儀器參數：
激光光源
Continuum SureliteTM III－10 YAG激光器
波長(cháng)：1064 nm
能量：800
脈寬：4～6 ns
光束發(fā)散角：0.6 mrads
真空光學(xué)系統
巴邢—龍格架法，光柵焦距750 mm
高發(fā)光全息光柵，刻線(xiàn)為2400條/mm
譜線(xiàn)范圍：170 ~ 800 nm
色散率
上等色散率：0.55 nm/mm
二級色散率：0.275 nm/mm
分辨率：優(yōu)于0.01 nm
標準檢測通道數量：25個(gè)
樣品掃描定位系統
三維工作臺
行程：X軸75mm，Y軸75mm，Z軸100mm
數控步進(jìn)電機驅動(dòng)
位置重復精度為0.01mm
工件*大重量：12Kg
CCD成像系統
聯(lián)合數控工作臺實(shí)現樣品的定位和觀(guān)察
視場(chǎng)大?。?～10mm
聚焦精度：0. 1mm
電源要求
220V/20A
外形尺寸
寬×深×高（105 cm×66 cm×120 cm）
重量
毛重約400 Kg
工作環(huán)境
溫度：18～29℃
濕度：≤60%
