用于貴金屬檢測的XRF手持式光譜分析儀DELTA概覽：
用于貴金屬檢測的DELTA XRF分析儀無(wú)需將檢測工具探入到被測樣件的材料中，也不會(huì )損壞被測樣件，即可快速獲得樣件精 確的合金化學(xué)成份信息，并判斷出樣件的克拉等級。無(wú)論在進(jìn)口貴金屬、銷(xiāo)售或生產(chǎn)珠寶，還是處理廢料金屬方面，Innov-X的XRF分析儀都是用戶(hù)**的選擇。
Innov-X的用于貴金屬檢測的XRF手持式光譜分析儀DELTA是珠寶行業(yè)、博物館、考古現場(chǎng)、典當行、錢(qián)幣收藏家、黃金交易場(chǎng)所、廢料回收業(yè)以及其它行業(yè)的上佳選擇。
●典型應用
¨現場(chǎng)鑒定黃金的克拉含量：0 - 24 K
¨辨別貴金屬中的雜質(zhì)
¨分析鉑金、金及其它貴金屬合金
¨探測黃金中的銀及其它金屬含量
¨核查廢舊金材料中的金含量
¨確定鑄幣中的金含量
¨辨別并定級牙科用汞合金
用于貴金屬檢測的XRF手持式光譜分析儀DELTA特性：
●可靠的性能
在迅速獲得精 確結果比以往任何時(shí)候都更為重要的當前經(jīng)濟環(huán)境中，DELTA Classic手持式XRF就是一款可提供*級精準結果的分析儀。
當您使用Innov-X手持式XRF在分析現場(chǎng)享受其便捷的操作所帶來(lái)的樂(lè )趣時(shí)，您也會(huì )對為您測得的黃金和貴金屬物品的檢測結果充滿(mǎn)信心。
用于分析貴金屬的DELTA Classic分析儀型號為DC-2000PM。
●功能
?強大的4W X射線(xiàn)管可對黃金進(jìn)行可靠、精 確的分析
?速度*快：可在數秒之內得出結果
?精 確度*高 - 結果可靠
?完全無(wú)損的檢測方式
?在不平的表面上輕松測量
?自動(dòng)判斷克拉等級
?數據存儲的容量*大，可用作以后檢測的參考
?數據導出與報告制作*為方便，可立即制作檢驗結果證書(shū)
?可選內置攝像頭及微點(diǎn)準直功能，不僅可完成高度聚焦的分析，還有助于樣件圖像的歸檔
用于貴金屬檢測的XRF手持式光譜分析儀DELTA產(chǎn)品詳情：
DELTA系列
●具有業(yè)內**創(chuàng ) 新特點(diǎn)的手持式XRF分析儀為您提供所需的各種功能
新一代DELTA手持式XRF分析儀具有前瞻性的符合人體工程學(xué)的新型機身結構，體現了電子學(xué)、部件設計及軟件**領(lǐng)域的新技術(shù)。
新近**的X-act Count?技術(shù)在對更多材料進(jìn)行檢測時(shí)，與以往的檢測相比，不僅提高了檢測速度，而且表現出更出色的靈敏度和精 確性。在對大多數元素進(jìn)行檢測時(shí)，由于檢測時(shí)間節省了一半，而檢測的精 確性不變或更高，從而*大地提高了檢測量。
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特性與** |
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強大的4W X射線(xiàn)管，200 μA電流（*大），優(yōu)化的光束設置 |
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緊湊的機身結構，上等的檢出限，高分析量 |
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大區域硅漂移探測器和自定義的X射線(xiàn)管為更多元素和材料的探測提供了優(yōu)良的靈敏度和精 確性。 |
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分析儀檢測與數據采集的速度快如閃電 |
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浮點(diǎn)處理器：在較短的時(shí)間內可進(jìn)行更多的計算，還可使用更**的校準算法 |
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在大多數**，可以使用內置藍牙（Bluetooth®）技術(shù)進(jìn)行數據輸入與輸出操作 |
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遍布DELTA機體的內置大區域散熱器適用于*端溫度下的高功率檢測操作 |
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分析指示燈全方位360°可見(jiàn)，有助于****操作性能 |
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上等、彩色、LCD觸摸屏，具有清晰、明亮、反應靈敏、及室內/室外顯示不同的省電節能特性 |
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利用加速計技術(shù)，在不使用分析儀時(shí)可使其處于休眠模式；還可記錄分析儀受到撞擊的情況，以便更好地對分析儀進(jìn)行管理 |
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DELTA的PC機軟件可加強數據分析、校準設計及可選封閉射線(xiàn)工作站的性能 |
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USB接口，用于高速數據下載，并可用PC機對分析儀進(jìn)行萬(wàn)無(wú)一失的控制 |
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符合人體工程學(xué)的橡膠把手，方便操作人員持握儀器 |
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插接站和熱插拔電池 |
●用于貴金屬檢測的XRF手持式光譜分析儀DELTA的配置
DELTA系列手持式光譜儀的出現，使既強大又靈活的X射線(xiàn)熒光光譜測定法得以應用到野外的檢測分析中。這款堅固耐用、*級便攜的分析儀可以進(jìn)行7天24小時(shí)不停歇檢測，具有*快的檢測速度，檢測人員不僅每天可多檢測數百件產(chǎn)品，而且還會(huì )對分析結果充滿(mǎn)信心。DELTA系列分析儀配備有性能強大的袖珍X射線(xiàn)管、Si-PIN探測器或上等硅漂移探測器（SDD）、專(zhuān)用過(guò)濾器及多光束優(yōu)化功能，從而可將XRF的分析性能發(fā)揮到精良。DELTA分析儀的實(shí)際整體價(jià)值體現在如下方面：它可在現場(chǎng)檢測中幾乎不依靠遠離檢測環(huán)境的實(shí)驗室測試，即刻做出正確的決策。
